深圳市禾苗分析仪器

 
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深圳禾苗HeLeeX E8-SPR X荧光光谱仪 镀层测厚仪 RoHS检测仪 合金分析仪 贵金属分析
 
 
 
 


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商品数
3
开店时间
2013-08-26
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一、简述:

    HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),与普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告; HeLeeX E8SPR精密度、准确度、检出限等技术参数全面超越国内外同类仪器。

专业的镀层测试软件,小光斑设计,多种工作模型选择,测试数据更精确,更稳定。


 进一步了解仪器使用性能和售前相关工作,请致电咨询:13641467818 邓生

二、仪器技术特点

 

   

2.1、仪器规格:

Ø    外形尺寸    380 mm x 510mm x 365 mm (长xx高)

Ø    样品仓尺寸360mm×330 mm ×110 mm (长xx高)

Ø    仪器重量    33.5kg

Ø    供电电源    AC220V/ 50Hz

Ø    最大功率    330W

Ø    工作温度    15-30℃

Ø    相对湿度    ≤85%,不结露

2.2、仪器特点:

Ø    外形特点:

ð 仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。

ð 上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。

ð 表面采用高档汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。

Ø    辐射防护:

ð 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线。

ð 辐射标志警示。

ð 迷宫式结构,防止射线泄漏。

ð 安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μS快速切断X射线。

ð 仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。

Ø    硬件技术:

ð 超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。

ð 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。

ð 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。

ð 电路系统符合EMCFCC测试标准。

ð 快拆卸样品台,换薄膜更方便。

Ø    软件技术:

ð 分析元素:Na~U之间元素。

ð 分析时间:60~400秒。

ð 配置镀层测厚模型,RoHS检测分析模型,无卤分析模型。

ð 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作。

ð HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。

ð HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。

ð HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。

 

三、仪器硬件配置

3.1、探测器

Ø  类型:Si-PIN探测器(采用原装风进口高性能电致冷半导体探测器)

Ø  Be窗厚度:1mil

Ø  晶体面积:25mm2

Ø  最佳分辨率:149eV

Ø  信号处理系统DP5

 

3.2X射线管

Ø           0~50kV

Ø  最大电流     2.0mA

Ø  最大功率     50W

Ø           Mo

Ø  Be窗厚度    0.2mm

Ø  使用寿命     :大于2万小时

 

3.3、高压电源

Ø  输出电压:0~50kV

Ø  灯丝电流:0~2mA

Ø  最大功率:50W

Ø  纹波系数:0.1%p-p值)

Ø  8小时稳定性:0.05%

3.4、摄像头

Ø  微焦距

Ø  免驱动

Ø  500万像素

3.5、准直器、滤光片

Ø  快拆卸准直器、滤光片系统

Ø  多种材质准直器

Ø  光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm

Ø  多种滤光片、准直器组合,软件自动切换

3.6、其他配件

   进口高性能开关电源

   进口低噪声、大风量风扇

四、仪器软件配置

Ø  软件名称:HeLeeX  ED  Workstation  V3.0

Ø  应对指令:镀层测厚,RoHS检测(PbCdHgCrBr)、无卤检测(BrCl)等等。

Ø  开放式分析模型。

Ø  多种数据算法,根据不同基体样品,配备不同算法,提高仪器测试精准度。

Ø  数据一键备份、一键还原,增加数据安全性。

Ø  操作界面简洁,使用方便。

Ø  软件帮助功能。